美国phantech 分辨率测试卡

产品型号：USAF 1951
更新时间：2026-03-05

简要描述：光学成像系统的分辨率指该系统能否分开两个靠近的点或物体细节的能力，通常以每毫米可以识别的线对数（lp/mm）来表示光学成像系统分辨率的大小。
美国phantech 分辨率测试卡

品牌	美国Phantech	产地	进口

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光学成像系统的分辨率指该系统能否分开两个靠近的点或物体细节的能力，通常以每毫米可以识别的线对数（lp/mm）来表示光学成像系统分辨率的大小。线对由一条黑线和一条白线组成，光学成像系统能分辨的每毫米线对数越多，分辨能力越好，分辨率越大。如图1所示为光学成像系统zui 大分辨率示意图，上方线对的线宽和线距较小，成像系统无法分辨；下方线对的线宽和线距有所增加，成像系统正好分辨，该线对对应的每毫米线对数即为成像系统的zui 大分辨率。
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分辨率： 1-57(LP/mm)

Phantech现在提供荧光和发光 USAF 1951 线对分辨率模型，用于荧光显微镜、荧光引导手术和体内光学成像系统！我们可以容纳从第 -2 组元素 1 到第 7 组元素 6 的线对（与 2.19 微米线对一样好；每毫米 228 个线对）。我们的荧光材料涵盖可见光谱和 NIR。如果你想知道更多的信息，请咨询我们！

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