Loresta-GXⅡ MCP-T710低电阻率仪,MCP-T710电阻率仪详细介绍:
Loresta-GXⅡ MCP-T710低电阻率仪 MCP-T710电阻率仪是一种用于测量电阻率的测量仪器,电阻率是材料评价标准之一。
电阻率(表面电阻率、体积电阻率和电导率)是反映材料状态和特性的指标之一。Loresta-GXⅡ MCP-T710是一款能够利用校正系数轻松、精确地测量电阻率的设备。
该设备符合 JIS K 7194 测量方法,可使用各种探针测量多种材料,包括导电塑料、ITO 薄膜和硅片。
与传统的四端测量方法不同,该方法无需在被测物体上制作电极。使用我们设计的各种四探针,只需一次接触即可完成电阻率测量。
主要测量
导电塑料、电磁屏蔽材料、硅片、导电橡胶、导电涂料、导电浆料、导电油墨、金属薄膜、ITO玻璃、导电膜等。
Loresta-GXⅡ MCP-T710低电阻率仪 MCP-T710 电阻率仪精确快速测量材料电阻率
低电阻率仪(测量范围 10⁻⁴ - 10⁷ Ω)
智能电阻率仪,配备 4 针调节系数计算软件
与Loresta GP( 10⁻³至 10⁷ Ω )相比,测量范围已扩展至10⁻⁴至10⁷ Ω 。
通过改变电流方向,可以测量硅晶片。
恒流变量功能(允许使用微小电流进行采样测量)
最多可将 2000 个测量结果输出到 U 盘。
采用触摸面板后,易用性得到提升。
Loresta-GXⅡ MCP-T710低电阻率仪 MCP-T710 电阻率仪特征:
测量范围下限扩展至10⁻⁴ Ω
操作直观,配备功能齐全的7.5英寸彩色液晶触摸屏
测量范围扩大至10⁻⁴ - 10⁷ Ω
用于硅片测量的硅模式
新增一键自动测量功能、自动保持和定时模式
Loresta-GXⅡ MCP-T710低电阻率仪 MCP-T710 电阻率仪规格:| 测量方法 | 恒流施加法/四探针法 |
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| 数据显示 | 640 x 480 像素 7.5 英寸全彩 TFT LCD 触摸屏 |
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| 康瓦莱拉 | 上限和下限可以分别设置。 |
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| 探测 | 专用探头:ASR、LSR、ESR、PSR、QR、BSR、NSCR、AR、BR |
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| 数据输出 | USB闪存盘 |
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| 电源 | 交流电 85-264V 47-63Hz |
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| 尺寸和重量 | 宽320×深285×高110毫米<br>(收纳盒打开时尺寸:宽320×深285×高200毫米)约2.4公斤 |
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| 标准配置 | ASR探针,4针探针检测器 |
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测量范围和精度
| \ | 恒流值 |
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| 1A | 100毫安 | 10毫安 | 1毫安 | 100 μA | 10 μA |
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测量 范围
| 10 -4 | ±(2.0% + 30dgt) |
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| 10 -3 | ±(2.0% + 20dgt) | ±(2.0% + 20dgt) |
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| 10 -2 | ±(1.0% + 5dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) |
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| 10 -1 | ±(1.0% + 3dgt) | ±(1.0% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) |
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| 10 0 |
| ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) |
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| 10 1 |
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| ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) |
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| \ | 恒流值 |
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| 1毫安 | 100 μA | 10 μA | 1 μA | 0.1 μA |
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测量 范围
| 10 2 | ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) |
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| 10 3 |
| ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) | ±(2.0% + 20dgt) |
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| 10 4 |
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| ±(0.5% + 3dgt) | ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 5dgt) |
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| 10 5 |
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| ±(0.5% + 3dgt) | ±(1.0% + 3dgt) |
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| 10 6 |
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| ±(1.0% + 3dgt) |
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| 10 7 |
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| ±(2.0% + 5dgt) |
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可选:
针对各种样品,提供了多种探针选择,并可提供特殊形状的探针。
提示:
Loresta GX 的探针无法连接到 Loresta GXII。