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QRM QRM-MicroBar测试卡，QRM-MicroBar测试模体,Micro-CT高分辨率测试卡 技术参数： 内含两个3mm×3mm硅质芯片，分别水平和垂直安装，芯片上刻有条状（沟槽）和点状图样，度规格为：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.
更新时间：2026-03-25
JIMA RT RC-04分辨率测试卡,RT RC-04测试卡详细介绍： JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
更新时间：2026-03-12
德国QUART公司高分辨测试卡（X射线检测用线对卡）、二度星卡（2度星卡，焦斑卡）是医院、疾控中心、第三方检测单位用来检测 X射线机等透视成像设备的X射线的分辨率的装置。 Type 81高分辨测试卡
更新时间：2026-03-12
JIMA RT RC-05分辨率测试卡 测试卡封装在一个防护盒中 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm 芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm 图案布局：T型 （3-10μm） I 型 （15-50μm）
更新时间：2026-03-12
JIMA RT RC-04分辨率测试卡是一种用于设置和测试微焦 X 射线系统的光刻生产的测试模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之间的分辨率，对应于 0.2 µm 和 20 µm 之间的焦斑尺寸。不同距离的线束应用于硅载体
更新时间：2026-03-09
光学成像系统的分辨率指该系统能否分开两个靠近的点或物体细节的能力，通常以每毫米可以识别的线对数（lp/mm）来表示光学成像系统分辨率的大小。 美国phantech 分辨率测试卡
更新时间：2026-03-05
WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡每个线对组由4块规格尺寸相同的薄片平行排列构成（薄片之间用与薄片等厚的金属隔片隔开），两侧放置最厚薄片的2倍厚度的校准块，每组线对卡里面的金属片组间隔为2.5mm。
更新时间：2026-03-04
RC-02B分辨率测试卡X射线分辨率测试卡致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
更新时间：2025-07-02
RT CT-01 JIMA分辨率卡致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
更新时间：2025-06-30
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