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RC-04分辨率测试卡是一种用于设置和测试微焦 X 射线系统的光刻生产的测试模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之间的分辨率,对应于 0.2 µm 和 20 µm 之间的焦斑尺寸。
分辨率测试卡是一款采用半导体光刻技术制作的微型测试卡。它用于校准和监控系统分辨率,确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。
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TEL:0755-84532779
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